Растровый микроскоп РЭМ-106

Name: Растровый микроскоп РЭМ-106
SKU: 2196
Rating: 0

Артикул: 2196

В наличии

Цена по запросу

zakazrkpo@gmail.com

Товар сертифицирован

Выберите город:

Транспортной компанией

Доставка в Пермь от 5 дней

Стоимость доставки: 5200 ₽*

*Ориентировочная стоимость за 1кг (куб.м)

Гарантия и сервис

Гарантия 12 месяцев

Связаться с нашим менеджером и сообщить о неисправности

Описание
Отзывы(0)

Растровый микроскоп РЭМ-106 предназначен для исследований в материаловедении, нанотехнологиях, физике, химии, геологии, микроэлектронике, биологии, медицине и др. областях с гарантированными метрологическими параметрами измерений линейных размеров субмикронного диапазона и массовой доли элементов в составе исследуемых объектов.

Конструктивные особенности

быстрое, с гарантированной точностью, измерение линейных размеров объектов;
определение элементного состава объектов методом рентгеновского микроанализа с гарантированной точностью;
высокое качество электронно-оптических изображений поверхности проводящих и диэлектрических объектов без специального приготовления в режимах вторичных (ВЭ) и отраженных электронов (ОЭ);
набор тестовых образцов для калибровки и поверки метрологических параметров, электронно-оптического увеличения, разрешающей способности в режиме ВЭ и ОЭ, калибровки и поверки системы микроанализа; набор эталонов для количественного микроанализа;
конструкция вакуумной системы, обеспечивающая два рабочих режима в камере объектов: высоковакуумный (классический РЭМ) и низковакуумный регулируемый – для исследования диэлектрических объектов;
электронно-оптическая система с повышенной защищенностью от внешних электромагнитных полей;
высокая виброустойчивость;
объективная линза с разделительными диафрагмами для дифференциальной откачки камеры объектов и электронной пушки;
управление вакуумной, электронно-оптической, энерго-дисперсионной системами прибора и механизмом перемещения объектов, а также визуализацию и хранение изображений и результатов микроанализа обеспечивается персональным компьютером;
документирование изображений и спектров высокоразрешающим принтером;
отображение информации о состоянии прибора на дисплее компьютера.

Технические характеристики
Разрешение в режиме высокого вакуума (ВЭ), нм	4
Разрешение в режиме низкого вакуума (ОЭ), нм	6
Максимальный размер изображения, пикс	1280 960
Диапазон регулирования давления в камере, Па	1 - 270
Диапазон ускоряющих напряжений, кВ	0,5 - 30
Диапазон регулирования увеличений, х	15 - 300000
Максимальный размер объекта, мм	50
Диапазон перемещений объекта:
по координатам X, Y, мм	±25
по координате Z, мм	50
наклон,°	-20 до 60
поворот, °	360
Время смены образца, мин	5
Диапазон измерений линейных размеров, µm	0,2 - 5000
Пределы допускаемой основной погрешности измерений линейных размеров, не более:
в диапазоне от 0,2 µm до 0,8 µm, нм	±40
в диапазоне свыше 0,8 µm до 5000 µm, %	±4
Диапазон анализируемых элементов:
в режиме высокого вакуума	₅B - ₉₂U
в режиме низкого вакуума	₁₂Mg - ₉₂U
Разрешение ЭДС, eV	139
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли элемента в диапазоне от ₆С до ₉₂U
в составе массивных образцов, не более:
для элементов с диапазоном массовой доли свыше 10 %, %	±4
для элементов с диапазоном массовой доли свыше 1 % до 10 %, %	±20
для элементов с диапазоном массовой доли от 0,1 % до 1 %, %	±50
Напряжение питания (1 фаза), В	220
частота, ГЦ	50/60
Потребляемая мощность, кВА	2,5
Габаритные размеры (колонна со стендом), мм	1050х2100х1850
Масса, кг	685